ISO 3497:2000

Description

AVERTISSEMENT : La pr√©sente Norme internationale ne traite pas des probl√®mes de protection du personnel contre les rayons X. Pour tout renseignement sur cet aspect essentiel, il convient de se r√©f√©rer aux Normes internationales et normes nationales, ainsi qu’aux codes locaux, s’il en existe. La pr√©sente Norme internationale sp√©cifie des m√©thodes de mesurage, par spectrom√©trie de rayons X, de l’√©paisseur des rev√™tements m√©talliques. Les m√©thodes de mesurage de la pr√©sente Norme internationale sont applicables, avant tout, √† la d√©termination de la masse de rev√™tement par unit√© de surface. Connaissant la masse volumique du mat√©riau de rev√™tement, il est possible, √©galement, d’exprimer les r√©sultats mesur√©s en √©paisseur lin√©aire de rev√™tement. Les m√©thodes de mesurage permettent de mesurer simultan√©ment les syst√®mes de rev√™tement ayant jusqu’√† trois couches, ou de mesurer simultan√©ment l’√©paisseur et les compositions des couches ayant jusqu’√† trois composants. Les plages pratiques de mesurage des mat√©riaux de rev√™tement indiqu√©s sont largement fonction de la puissance de la fluorescence X caract√©ristique √† analyser et de l’incertitude de mesure tol√©r√©e, et peuvent diff√©rer selon l’appareillage et le mode op√©ratoire utilis√©s.